光学形貌仪使用特性

光学形貌仪进行表面粗糙度和表面形貌测量时，比探针式轮廓仪有G低的成本，但同样使用了当今较高分辨率光学轮廓仪采用的白光干涉（WSI）及相移干涉（PSI）测量技术，垂直分辨率可达次纳米级。光学形貌仪的直观软件包括表面粗糙度，形状和台阶高度的测量，在数秒内，您可以获得平面和曲面表面形貌测量所有常见的粗糙度参数。也可以选择拼接功能软件来组合多个影像以提供大面积的测量。

 

产品应用：

MEMS、半导体材料、太阳能电池、生物材料，光学元件、陶瓷和材料的研发。

 

产品特性：

1、采用白光共J焦色差技术，可获得纳米级的分辨率；

2、测量具有非破坏性，测量速度快，准确度高；

3、测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料；

4、尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面；

5、不受样品反射率的影响；

6、不受环境光的影响；

7、测量简单，样品无需特殊处理。

 

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